昭和52年に小倉駅前のパーツショップで購入した、紙エポキシ基板。

アンプ製作用の数枚のうち、残った1枚の基板で、それなりの経年変化が歪となって現れている。（むしろ今回の検証にもってこいの状態）

これまで、プロービングについてはシミュレーションばかりだったので、今回は実測！

手順と内容はシンプル。

1..セットした紙エポキシ基板の角を作業座標のX0、Y0に設定
2..プローブで基板上の適当な位置（角が良い）に移動し、Z軸0レベルを検出


Z軸0検出のプロービングの内容
G21G91G38.2Z-30F100; G0Z1; G38.2Z-2F10


3..プローブで検出された0レベルを作業座標Z軸に登録。
4..ハイトマップで設定したグリッドをプローブコマンドで順次プロービングして、歪の値を自動記録。

通常の作業は一回で終了するはずなので、特に計測データを保存する必要性を感じないが、マテリアルのサイズと計測するポイントが繰り返し必要になるなら保存して再利用した方が早い。

実測するテスト範囲を、基板裏面に、両面テープ四ヶ所で固定。



プロービング中の様子。




計測終了。　
16ヶ所の計測で二分ちょい！（設定にもよる）


グリッドの数を増やすとより歪を確認しやすい。